奈米粒徑界面電位分析儀 StabiSizer II PSD and Zeta Potential Analyzer

型號：StabiSizer II 廠牌：Colloid Metrix 具備低角度90度及173度偵測角度適合各種濃度奈米粒徑分析測量快速、重覆性高可同時分析粒徑、分子量和界面電位

規格與說明:

簡介

Stabisizer II奈米粒靜電位分析儀可同步量測滴定過程中樣品粒徑對應界面、流動電位以及電導度的變化.Stabisizer II為Nano-flex II與Stabino II搭配作業，為使用上極具彈性且內建滴定控制之多功能分析儀器。可選定酸鹼，電解質或鹽類滴定程序。滴定過程可設定為定量滴定或是動態滴定機制，滴定量測過程快速確實，滴定過程只需5-15分鐘即可完成。

Stabisizer II粒徑分析使用180度動態光散射測量粒子的布朗運動之粒徑分析儀(Nano-flex II)。分析粒徑範圍可從0.3nm到10µm，動態測量範圍廣，且具高解析分析結果。其滴定及界面流動電位分析使用高效率電荷滴定-界面流動電位分析儀(Stabino II). Nano-flex II和Stabino II皆可獨立操作進行量測工作。

特點

滴定過程中，同步量測記錄粒徑與電位的變化
可測量溶液或分析液濃度高達40%
粒徑測量範圍：0.3nm~10µm
電位範圍：-3,000mV ~ +3,000mV
配備兩組滴定裝置，分析快速
操作簡便，容易清潔

規格

型號	SZ-100-Z
測量原理	粒徑測量：動態光散射法分子量測量：靜態光散射Debye Plot法 Zeta電位測量：雷射都卜勒電泳動法
測量範圍	粒徑：0.3nm～10um 分子量：1000～2×10 ⁷（DebyePlot） 540～2×10 ⁷（MHS） ^※1 Zeta電位：-500 ~ +500mV 可測得Zeta電位之粒徑範圍2.0nm～100μm (依樣品而異) 導電度範圍：0～20S/m
最大樣品濃度	40wt％(依樣品而異)
粒徑測量精確度	根據ISO13321：1996, JIS Z8826：2005 ±2％(以NISTTraceable PS粒子100nm測量)
粒徑測量角度	90°及173° （依樣品濃度而異）
分析槽	石英比色槽(Cuvette cell) 測量Zeta電位須用附電極之專用分析槽
測量時間	約2分
樣品需用量	最少12μL ^※3～1000μL（依分析槽材質而異）測量Zeta電位須100μL
可使用分散媒	水、酒精、有機溶劑（依分析槽材質而異）測量Zeta電位須用水。
操作界面	USB 2.0
光學系統	光源：半導體雷射光532nm 10mW 偵測器：光電倍增管（PMT）
雷射等級	Class 1
操作環境	15～35℃、RH85%以下
溫控設定	0～90℃（附電極分析槽、塑膠比色槽最高70℃）
清洗	可連接氮氣管路
電源	AC100－240V、50/60Hz、150VA
外觀尺寸	385（D）×528（W）×273（H）mm
重量	25kgs

技術資料

- Colloid Metrix StabiSizer 型錄