動態光散射奈米粒徑界面電位分析儀 SZ-100Z2 DLS PSD and Zeta Potential Analyzer
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型號：SZ-100Z2 廠牌：HORIBA 具備低角度90度及173度偵測角度 適合各種濃度奈米粒徑分析 測量快速、重覆性高 可同時分析粒徑、分子量和界面電位
規格與說明:
簡介
規格
技術資料
- Horiba SZ-100Z2 型錄
HORIBA動態光奈米粒徑分析儀最新機種nano Partica SZ-100正式與您見面!
藉由單一奈米粒子的分析測量，具備高敏度、高精確度之特性，並且可同時測量粒徑、Zeta電位及絕對分子量三種數據，是評價奈米粒子的最佳利器!
應用範圍
奈米陶瓷粒子, 奈米金屬粒子, 碳黑, 製藥, 生醫、色粉塗料、化粧品、高分子聚合物、食品、CMP漿料。
特點
- 同時具備三種鑑定奈米粒子的主要特性分析功能，包含粒徑分析、界面電位分析，以及分子量測量。
操作簡單，分析快速，動態粒徑測量可由0.3nm~8000nm。- 提供獨創電氣泳動樣品分析槽，僅需100uL即可測量界面電位值。Zeta電位測量範圍-200~+200mV。
- 可測量濃度從數個ppm到數十個百分比，樣品不需稀釋，可直接分析測量。
- 適合應用在懸浮粒子、功能性奈米材料、高分子、微膠粒、微脂粒、奈米膠囊等各種廣泛應用範圍。
粒徑分析
- 超寬動態粒徑測量範圍：0.3nm~8000nm
- 採用單一奈米粒子專用低角度90光學分析系統。
- 超寬樣品濃度測量範圍：採用雙光學系統，無論是漿料或顏料等濃稠樣品，或是micell或高分子等稀薄樣品，都能輕鬆分析測量。
界面電位分析
- 標準配備HORIBA自行開發的微量樣品zeta電位分析槽，樣品分析量最小可至100uL。
規格
| 型號 | SZ-100-Z |
| 測量原理 | 粒徑測量：動態光散射法 分子量測量：靜態光散射Debye Plot法 Zeta電位測量：雷射都卜勒電泳動法 |
| 測量範圍 | 粒徑：0.3nm～10um 分子量：1000～2×10 7（DebyePlot） 540～2×10 7（MHS） ※1 Zeta電位：-500 ~ +500mV 可測得Zeta電位之粒徑範圍2.0nm～100μm (依樣品而異) 導電度範圍：0～20S/m |
| 最大樣品濃度 | 40wt％(依樣品而異) |
| 粒徑測量精確度 | 根據ISO13321：1996, JIS Z8826：2005 ±2％(以NISTTraceable PS粒子100nm測量) |
| 粒徑測量角度 | 90°及173° （依樣品濃度而異） |
| 分析槽 | 石英比色槽(Cuvette cell) 測量Zeta電位須用附電極之專用分析槽 |
| 測量時間 | 約2分 |
| 樣品需用量 | 最少12μL ※3～1000μL（依分析槽材質而異） 測量Zeta電位須100μL |
| 可使用分散媒 | 水、酒精、有機溶劑（依分析槽材質而異） 測量Zeta電位須用水。 |
| 操作界面 | USB 2.0 |
| 光學系統 | 光源：半導體雷射光532nm 10mW 偵測器：光電倍增管（PMT） |
| 雷射等級 | Class 1 |
| 操作環境 | 15～35℃、RH85%以下 |
| 溫控設定 | 0～90℃（附電極分析槽、塑膠比色槽最高70℃） |
| 清洗 | 可連接氮氣管路 |
| 電源 | AC100－240V、50/60Hz、150VA |
| 外觀尺寸 | 385（D）×528（W）×273（H）mm |
| 重量 | 25kgs |
技術資料
- Horiba SZ-100Z2 型錄